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一、產品概述
     光電成像基礎與應用實訓平臺包括CCD和CMOS兩大方面，這兩方面原理與應用是《光電技術》和《圖像傳感器應用技術》課程重要章節，也是教學的難點章節，因此，monxyuan開發了光電成像基礎與應用實訓平臺。該平臺采用搭建式、開放式設計，直觀展現了線陣CCD、面陣CCD和CMOS的工作原理，并且設置了工程實際檢測的實驗，是學生理解和認識CCD和CMOS工作原理與實際應用的最理想的教學實驗系統。

二、教學目的
1. 了解并掌握線/面陣CCD和CMOS的原理；
2. 了解線/面陣CCD和CMOS的軟件使用方法；
3. 了解并掌握面陣CCD和CMOS信號處理方法；
4. 了解并掌握運用面陣CCD和CMOS進行尺寸測量和圖像處理的方法；
5. 了解并掌握學生掌握線陣CCD的幾種典型的應用；
三、主要技術參數
1. 內置黑白面陣CCD：有效像元數：768(水平)×576(垂直)；電子快門：1/50～1/80,000秒，自動連續調整；
2. 外接彩色面陣CCD：有效像元數：768(水平)×576(垂直)；電子快門：1/50～1/80,000秒，自動連續調整；
3. 圖像采集卡：8bit分辨率，黑白、彩色8bit×3采集；USB2.0接口；
4. 線陣CCD傳感器，TCD1206D，有效像元數：2160；像元尺寸：14μm×14μm，相鄰像元中心距14μm；
5. 信號輸出電器特性：模擬信號輸出5V；數字信號輸出，TTL電平；
6. 操作軟件：兼容Microsoft Windows98、Windows2000、WindowsXP、Windows7、Windows10；
7. 數據采集系統：8位分辨率，USB2.0方式，速度不低于5MHz的高速數據采集系統；
8. 光源：白色LED遠心照明光源；白色LED均勻光源；
9. 成像物鏡：焦距：50mm；相對孔徑：2；
10. 圖像傳感器：1/4″CMOS彩色；
11. 感光面積：4.9mm×3.7mm；
12. 信號系統：PAL/NTSC；
13. 有效像素768(H)×494(V)；
14. 功率消耗：小于3.5W；
15. 電源：12V ；
16. 工作溫度：-20°C～+55°C；
17. 感光芯片：1/4"OV5116B/WCMOS
18. 感光面積：3.2mm*2.5mm
19. 清晰度：240TVlines
20. CPLD:最大延遲時間tpd(1)10.0ns；電壓電源內部3V~3.6V邏輯元件/邏輯塊數目4；宏單元數64；門數1250；輸入/輸出數34；工作溫度0°C~85°C；
四、實驗內容
1. 面陣CCD原理與驅動實驗；
2. 面陣CCD數據采集與計算機接口實驗；
3. 面陣CCD邊緣與輪廓檢測；
4. 面陣CCD物體尺寸測量實驗； 
5. 面陣CCD圖像的點運算；  
6. 面陣CCD圖像的幾何變換；
7. 面陣CCD圖像采集與參數設置；
8. 面陣CCD投影與差影圖像分析；
9. 面陣CCD圖像的濾波與增強； 
10. 面陣CCD形態學處理；
11. 面陣CCD旋轉與縮放；
12. 面陣CCD顏色識別與變換；
13. 面陣CCD圖像采集程序設計；
14. 線陣CCD工作原理與驅動波形觀測；
15. 線陣CCD模擬輸出信號的調整；
16. 通過采集卡對線陣CCD的模擬輸出信號進行A/D轉換和數據采集；
17. 通過軟件浮動閾值對CCD的輸出信號進行二值化處理；
18. 利用線陣CCD對物體尺寸進行非接觸的實時測量；
19. 利用線陣CCD對物體的角度進行測量；
20. 利用線陣CCD測量物體的振動；
21. 利用線陣CCD識別一維條形碼；
22. 利用線陣CCD掃描物體的二維圖像；
23. 利用外置相機進行實物尺寸測量
24. 用硬件提取邊緣信號的二值化
25. CMOS原理與驅動實驗；
26. CMOS數據采集實驗；
27. CMOS圖像采集程序設計
28. CMOS用于邊緣與輪廓檢測實驗；
29. CMOS用于物體的尺寸測量實驗；
30. CMOS用于圖像采集與參數設置實驗；
31. CMOS用于投影與差影圖像分析實驗；
32. CMOS用于圖像的濾波與增強實驗；
33. CMOS用于顏色識別與變換實驗；
34. 擴展性實驗
（1）通過提供的CPLD程序，學生可以了解CPLD對外圍器件的控制；
（2）有能力的學生還可以自己編程來產生方波；
（3）通過提供的SDK和DEMO程序，編寫程序來采集擴展相機的數字信號；
（4）利用擴展相機并編寫軟件進行其他如尺寸測量等實驗等；
五、配套文件資料
1. 實驗指導書1本；
2. 實驗軟件1套；
3. 實驗錄像光盤1套；